Optics Japan 2003
9aP14 柴田 篤志
フォトクロミック膜による点回折干渉計測
点回折干渉計測(PDI)を利用して、フィルタ上に作られた透過率の異なるドットに集光された光により球面波を発生して干渉を得る。この干渉縞により透明位相物体の計測を行う。フィルタとして、フォトクロミック膜を用いる。
Optical Society Of Japan
An Affiliate of the Japan Society of Applied Physics