Optics Japan 2003



8pA11 安田 敬史

テラヘルツイメージングを用いた塗装膜の膜厚ムラ計測

THz電磁波パルスを用いた新しい塗装膜計測法により、従来の接触式膜厚計では困難である様々な塗装膜測定が可能になる。今回はTHzイメージングを用いた、(1)膜厚ムラ測定、(2)塗膜剥離診断について報告する。



Optical Society Of Japan
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