Optics Japan 2002



○安井 武史、光成 俊泰、荒木 勉

テラヘルツ電磁波パルスを用いた塗装膜測定法の開発

テラヘルツ電磁波パルスを用いることにより、従来の接触式膜厚計では困難とされた、非接触リモート、多層膜・ウェット膜の膜厚、乾燥状態、膜厚ムラ分布等の各種測定が可能な高機能膜厚測定法を実現する。



Optical Society Of Japan
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